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    ESD靜(jìng)電(diàn)放電測試(shì)-第三方(fāng)檢測(cè)中心

    發布(bù)時(shí)間: 2023-12-14  點(diǎn)擊次數: 2492次

    ESD靜(jìng)電放(fàng)電測試(shì)是(shì)指(zhǐ)對電子設備進(jìn)行(háng)靜(jìng)電放(fàng)電的測(cè)試。靜(jìng)電放電(diàn)測試是(shì)所(suǒ)有電(diàn)子(zǐ)設備必須要通(tōng)過的(dí)測試,其目的是仿真操(cāo)作人(rén)員(yuán)或物(wù)體在(zài)接觸設(shè)備時產生的放(fàng)電(diàn)以及人或(huò)物體(tǐ)對鄰近物體之放電,以檢測被測(cè)設(shè)備(bèi)抵(dǐ)抗(kàng)靜(jìng)電放(fàng)電之(zhī)幹擾能力。中(zhōng)科檢(jiǎn)測(cè)提(tí)供ESD靜(jìng)電放(fàng)電測試服務,具有CMA,CNAS資(zī)質。

    ESD靜(jìng)電放電測試項(xiàng)目:

    人體(tǐ)放(fàng)電(diàn)模式(HBM)測(cè)試:這種模(mó)式(shì)模(mó)擬(nǐ)了(liǎo)人體(tǐ)摩擦產(chǎn)生電荷,突(tū)然(rán)碰(pèng)到(dào)芯(xīn)片導致(zhì)芯片燒(shāo)毀(huǐ)擊穿的(dí)場景。在(zài)業(yè)界,通常使用人(rén)體放電(diàn)模式(HBM)和機(jī)器放電(diàn)模式(MM)來(lái)進行測(cè)試(shì)。

    機器放(fàng)電(diàn)模式(MM)測試(shì):這(zhè)種(zhǒng)模(mó)式模擬了(liǎo)機器(qì)(如robot)移動(dòng)產生的靜電,觸碰芯(xīn)片(piàn)時由(yóu)pin腳(jiǎo)釋放的情況(kuàng)。

    元件(jiàn)充(chōng)電模式(shì)(CDM)測試(shì):這種(zhǒng)模(mó)式(shì)模擬(nǐ)了(liǎo)元件(jiàn)充電時(shí)可能(néng)產生的靜電放電(diàn)現象。

    電(diàn)場(cháng)感應(yīng)模式(shì)(FIM)測試(shì):這種(zhǒng)模式模(mó)擬了(liǎo)電(diàn)場(cháng)感(gǎn)應(yīng)產生的靜(jìng)電放電現象。

    ESD靜(jìng)電放電(diàn)測(cè)試標準:

    EN 61000-4-2:ESD測(cè)試,靜電(diàn)放電CE認(rèn)證

    ISO 10605:2008 ESD汽(qì)車電(diàn)子測試設(shè)置要求

    ESD靜(jìng)電放電(diàn)測試流程:

    確定(dìng)測(cè)試目的(dí):明確需要進(jìn)行ESD靜電放(fàng)電測試的(dí)產(chǎn)品或設備,以(yǐ)及測試(shì)的目的(dí)和要求。

    選擇測(cè)試標(biāo)準:根據產(chǎn)品(pǐn)或(huò)設備的(dí)類(lèi)型(xíng)和用途,選擇(zé)合適的ESD靜(jìng)電(diàn)放電測試標準(zhǔn)。

    準(zhǔn)備(bèi)測試環境(jìng):搭建符合(hé)測試標(biāo)準的測(cè)試(shì)環境(jìng),包括(kuò)測(cè)試(shì)設備(bèi),接地係統,溫(wēn)度(dù),濕(shī)度(dù)等。

    準備測試樣品(pǐn):將需要(yào)測試的產品或設(shè)備放置(zhì)在(zài)測(cè)試台(tái)上,並確保(bǎo)其處(chǔ)於正(zhèng)常(cháng)工作狀態。

    進行靜電(diàn)放(fàng)電測試:使用符合(hé)測試(shì)標準的ESD靜(jìng)電放電(diàn)模擬器(qì)對(duì)產品或設備(bèi)進行放電測試(shì),記錄測(cè)試(shì)數據。

    分析測(cè)試數(shù)據:對(duì)測試數據(jù)進行分(fēn)析(xī)和處理,判(pàn)斷(duàn)產(chǎn)品或設備是否符合ESD靜電放電(diàn)的要求(qiú)。

    編(biān)寫測試報(bào)告:根(gēn)據(jù)測試(shì)數據和(hé)分析結(jié)果(guǒ),編寫ESD靜(jìng)電放(fàng)電(diàn)測(cè)試報(bào)告,包括測試目的(dí),方法(fǎ),數據,結(jié)論等(děng)。

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