國(guó)科控(kòng)股(gǔ)提(tí)供

掃(sǎo)描電鏡測(cè)試(shì)SEM
，x射(shè)綫能(néng)譜(pǔ)測試EDS

      周主任
：

     廣(guǎng)州(zhōu)中(zhōng)科檢測(cè)技術服務(wù)有限公(gōng)司通過(guò)了中(zhōng)國(guó)國(guó)家認證認可(kě)監督(dū)管理委員(yuán)會(huì)和中(zhōng)國合(hé)格(gé)評(píng)定(dìng)國家認(rèn)可(kě)委員會的二(èr)合(hé)一(yī)（cma，cnas）實驗室(shì)認(rèn)證認可
，是的第三(sān)方檢(jiǎn)測機構。為(wéi)您(nín)出(chū)具認證(zhèng)報告！日(rì)立(lì)S-3400N掃描電鏡(jìng)，德國布(bù)魯(lǔ)克Xflash Detector 5010能(néng)譜(pǔ)儀(yí)
，固體樣品均(jūn)可
，樣品(pǐn)應經(jīng)過真空幹燥(zào)處理
，不含(hán)水分(fēn)或(huò)其它易揮(huī)發成分。樣品(pǐn)厚度不能(néng)高於(yú)10mm
，樣品直徑(jìng)200mm。測試(shì)條件
：加速電壓0.3~30kv
，放(fàng)大倍率(shuài)5~300000倍
，分辨(biàn)率SE 3nm@30kv，10nm@3kv；BSE 4nm@30kv。可(kě)以(yǐ)測(cè)量固(gù)體樣(yàng)品，薄膜，微粒(lì)的表麵結(jié)構
，不(bù)導電(diàn)的需(xū)噴金(jīn)後測定。

掃(sǎo)描電鏡快速檢(jiǎn)測
，SEM現(xiàn)場檢測(cè)-國(guó)科(kē)控股資(zī)質檢測機(jī)構

掃描(miáo)電(diàn)鏡測(cè)試(shì)SEM可(kě)提(tí)供表(biǎo)麵結構測試(shì)
，進(jìn)行樣品微觀分析
，掃描式顯微(wēi)鏡(jìng)可(kě)放大到(dào)30萬倍(bèi)以上(shàng)
，可測試項(xiàng)目廣(guǎng)泛。

掃描電鏡快速檢測
，SEM現場(cháng)檢測-國科(kē)控(kòng)股(gǔ)資(zī)質檢測機(jī)構(gòu)

X射綫能(néng)譜
：入射電子(zǐ)和樣品(pǐn)進(jìn)行(háng)非(fēi)彈性碰撞可產生連(lián)續x光和特征x光
，前者係(xì)入(rù)射(shè)電(diàn)子減(jiǎn)速所(suǒ)放出(chū)的(dí)連續光譜
，形(xíng)成背景決定(dìng)zui少分(fēn)析之量
，後(hòu)者係(xì)特(tè)定能階(jiē)間之能(néng)量差(chà)
，可藉以分析成分元(yuán)素(sù)。

元素(sù)分(fēn)析(xī)
：
可(kě)以測試的金(jīn)屬元素(sù)有
： 鋰(lǐ)（li），鈹(pí)（be）， 鈉（na），鎂（mg），鋁（al）， 鉀(jiǎ)（k），鈣(gài)（ca），鈦（ti），釩(fán)（v），鉻(gè)（cr），錳（mn），鐵（fe）,鈷(gǔ)（co），鎳(niè)（ni），銅(tóng)（cu），鋅（zn），镓（ga），...

 特別推(tuī)出紅(hóng)外（F​IR），DSC(差視熱(rè)量(liáng)掃(sǎo)描儀)，TGA（熱失(shī)重(zhòng)分析(xī)），TGA-FIR聯用，DMA動(dòng)態力(lì)學(xué)分(fēn)析(xī)儀，塑料導熱係數(shù)，塑料(liào)配方剖析未知物成(chéng)分(fēn)分(fēn)析，激光粒度儀(yí)，TEM（透射電鏡(jìng)），SEM（掃(sǎo)描電鏡(jìng)）的測試。

如果(guǒ)[掃描電鏡測試(shì)SEM
，X射(shè)綫(xiàn)能譜(pǔ)測(cè)試
，元(yuán)素分析EDS ]描述不夠(gòu)全
，請我司獲(huò)取詳(xiáng)細資(zī)料(liào),咨詢(xún)！