低(dī)溫試(shì)驗用於(yú)考(kǎo)核產(chǎn)品在(zài)低溫(wēn)環(huán)境條件(jiàn)下貯(zhù)存和(hé)使(shǐ)用(yòng)的適應性，常用(yòng)於產(chǎn)品在(zài)開發階段的型(xíng)式試驗(yàn)，元器件(jiàn)的篩選試(shì)驗。中(zhōng)科(kē)檢(jiǎn)測開(kāi)展低溫試驗服務，具(jù)備CMA，CNAS資質(zhì)認(rèn)證(zhèng)。

低(dī)溫試(shì)驗方法(fǎ)

將試(shì)驗(yàn)樣(yàng)品放(fàng)入溫度為實驗室溫(wēn)度的試驗(yàn)箱中，然(rán)後(hòu)將溫度(dù)調(tiáo)節到(dào)符(fú)合相關(guān)規定(dìng)的嚴酷等級(jí)溫(wēn)度(dù)。

當試(shì)驗樣品(pǐn)溫度達到穩定後(hòu)，在該(gāi)條(tiáo)件(jiàn)下(xià)暴(bào)露到規(guī)定(dìng)的持續時間，對於試驗時需要通(tōng)電(diàn)運行的試(shì)驗(yàn)樣(yàng)品(pǐn)（即(jí)使它(tā)們(mén)不屬(shǔ)於散(sàn)熱(rè)試驗(yàn)樣品(pǐn)），應(yīng)在(zài)試驗樣品(pǐn)溫(wēn)度達到(dào)溫度後(hòu)通電，根據需(xū)要進(jìn)行功(gōng)能(néng)檢(jiǎn)測。

這種情(qíng)況(kuàng)下，可(kě)能還需要一段時(shí)間達到溫度穩定，然(rán)後(hòu)試驗(yàn)樣(yàng)品(pǐn)在該(gāi)低溫條件下暴露(lòu)到相關(guān)規範規(guī)定的持(chí)續時間。

低溫(wēn)試(shì)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2008，IEC 60068-2-1:2007 電工(gōng)電子(zǐ)產品環境試驗 第 2 部分(fēn)
：試驗方(fāng)法 試驗 A
：低溫

GB/T 4857.2——2005，ISO 2233:2000 包裝(zhuāng) 運(yùn)輸(shū)包(bāo)裝(zhuāng)件基本(běn)試驗 第 2 部(bù)分
：溫濕度調節處(chǔ)理

GJB150.4A-2009 裝備(bèi)實驗室環境試(shì)驗(yàn)方法 第 4 部(bù)分
：低溫(wēn)試驗

QC/T 413-2002 汽(qì)車電(diàn)氣(qì)設備基本(běn)技術(shù)條件(jiàn)

GB/T 6587-2012 電子測(cè)量儀器通用規(guī)範

低(dī)溫試(shì)驗服(fú)務(wù)優勢

中(zhōng)科(kē)檢測——專(zhuān)業(yè)的咨詢服務

中科(kē)檢測——全(quán)麵的測(cè)試能(néng)力

中(zhōng)科(kē)檢(jiǎn)測——詳(xiáng)盡的(dí)技術方(fāng)案

中(zhōng)科(kē)檢測(cè)——高效的(dí)測(cè)試(shì)服(fú)務(wù)

中科檢(jiǎn)測——良好的(dí)客戶體(tǐ)驗